Инновации Москвы: фотонные схемы и защищенные СИМ-карты на "Иннопроме"
На "Иннопроме" в Екатеринбурге московские компании представили передовые разработки в сфере микроэлектроники и фотоники. Среди экспонатов — фотонная интегральная схема, российская СИМ-карта и профилометр, демонстрирующие высокий технологический потенциал столицы.
Московские предприятия, занимающиеся выпуском микроэлектронной и фотонной продукции, представили свои новейшие разработки на международной промышленной выставке "Иннопром", которая проходит в Екатеринбурге. Об этом сообщил министр правительства Москвы и руководитель столичного департамента инвестиционной и промышленной политики (ДИПП) Анатолий Гарбузов.
"Согласно поручению мэра Москвы Сергея Собянина, город целенаправленно развивает высокотехнологичные сектора промышленности. Продукция в области фотоники и микроэлектроники имеет ключевое значение для продвижения различных сфер: промышленности, информационных технологий, медицины, телекоммуникаций и транспортной инфраструктуры. Московские компании, включая те, что функционируют в рамках межотраслевого кластера, занимаются разработкой инновационных решений, внедрением перспективных технологий и производством самой современной продукции," – отметил Гарбузов, его слова привела пресс-служба ДИПП.
Москва активно способствует прогрессу в областях микроэлектроники и фотоники, создавая благоприятные условия для развития компаний. Поддержка также осуществляется через предоставление льготных инвестиционных кредитов, а резиденты особой экономической зоны (ОЭЗ) города могут рассчитывать на налоговые льготы.
В рамках выставки резидент ОЭЗ "Технополис Москва", "Московский центр фотоники", представил свою фотонную интегральную схему с множеством оптически связанных компонентов. Кроме того, предприятие "Микрон" продемонстрировало российскую СИМ-карту, поддерживающую отечественные системы аутентификации, электронную подпись и криптографическую защиту данных. Также компания "Активная фотоника" из Москвы представила профилометр, с помощью которого специалистам будет доступно всестороннее изучение поверхности материалов с использованием методов рамановской спектроскопии, стилусной профилометрии и других технологий.